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動態顆粒圖像分析儀
世界上*能對快速移動顆粒直接進行粒度大小和粒形分析的快速圖像分析儀－QICPIC（Quick Picture）
原理：
從頻閃光源發出的頻閃光，經過光束擴束器，得到平行的頻閃光，在測試區域頻閃光照射在分散好的單個顆粒上，經過擁有的光學成像系統，得到每個顆粒清晰的圖像和全部樣品的粒度分布。
不同評估參數及模式：
| 與物料特性相適應 | |
| 規整的顆粒 | 等效投影圓面積徑 | 球形度 | 寬長比 |
| 細長型 | Feretmax | Feretmin | 凸度 | 寬長比 |
| 纖維狀 | LEFI | DIFI | VBFD | 平直度 | 伸長率 |
| 透明顆粒 | Feretmean | PED |寬長比 |
| 與其它測試手段的可比性 | |
| 篩分 | Feretmin | DIFI |
| 激光衍射 | 等效投影圓面積徑 |
特點：
* *的光路設計，成像大小同物距無關
* *的頻閃光源和高速成像系統，*同高效的分散系統相結合，對每個顆粒均能得到清晰的圖像
* 頻閃時間間隔 t ≈1 ns（即頻閃率約為109次/秒），光源頻率可以根據快速CMOS相機的快門頻率進行調節（1-500Hz)
技術參數：
| 參數 | 指標 | 詳細說明 |
| 型號 | QICPIC | 粒度范圍：0.55－33792 微米（鏡頭可選） |
| 測試方法 | 動態成像法 | 顆粒在快速移動中進行測試 |
| 分散系統 | 自選組合式 | 根據物料原始狀態不同，可選擇不同的分散系統，直接分散干粉、漿料、懸浮液、乳濁液、纖維等 |
| 光 源 | 頻閃光 | 脈沖間隔< 1 ns（頻閃率約為109次/秒） 波長532 nm |
| 光束擴束器 | 根據量程不同可自動調整輸出光束的直徑：35 mm Ø, 16 mm Ø, 7 mm Ø | |
| 測試系統 | 高速成像系統CMOS | 像素：2048 x 2048 square pixels, 5.5x5.5μm2 |
| 灰度：256 (8 bit) | ||
| 拍攝速率 | 可達500幅/秒 | |
| 數據傳輸 | CoaXPress | 12.5Gbit /s, 25Gbit/s |
| 數據處理 | 粒度大小 | 等效投影圓面積徑（EQPC）、Feret徑、外接矩形徑、弦長和Martin徑等 |
| 顆粒形貌 | 球形度，長細比等、纖維長度、平直度、伸長率等 | |
| 粒度范圍表征 | 可自定義, 在選定范圍內 可達1,000,000個粒度區間 | |
| 結果輸出 | 圖像信息 | 可選擇多種方式: 影像放映、粒度分布、特定顆粒信息等，結果可重現 |
應用范圍
QICPIC廣泛應用于食品行業、石油工業、紡織行業、飲料行業、醫藥行業、煙草行業等領域，可用于測試如纖維、芝麻、鋼球、造粒小球、飲料中的果粒等物質的粒度粒形檢測，并可應用于顆粒的計數。
結果輸出：
根據物料不同的性質，可選取適合的表征值，進行結果的計算與顯示。也可在獲得樣品的測試信息后，更換表征值或自定義值進行結果的重新計算。
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