現有的圖像分析儀按照被測物體的運動狀態，分為靜態圖像分析儀（Static Image Analysis，SIA）與動態圖像分析儀（Dynamic Image Analysis，DIA）兩大類。
 

   靜態圖像分析儀，如顯微鏡，可精密對焦，對小顆粒測試可獲得很清晰的圖像。但對于極微量樣品，取樣誤差大，測試結果的代表性和統計性差；顆粒的取向受載片的限制，只能測量顆粒的一個平面投影圖像；對重疊的顆粒也只能通過數學計算的方法進行處理；同時受顯微鏡分辨距離的限制，被測試顆粒的小粒徑是有限的。
 

   動態圖像分析儀和靜態圖像分析儀相比，測試樣品量增加，減少了取樣誤差，統計的代表性也相對增加；由于測試顆粒處于運動狀態，取向任意，顆粒重疊的現象減少。但也仍存在不少缺點：

（1）顆粒移動過程中對焦，顆粒的移動速度受限；

（2）由于沒有分散，顆粒重疊現象仍然存在；

（3）濕法測量：循環速率低，大顆粒易沉降，且樣品量少；

（4）干法測量：盡適用于流動性非常好的顆粒的自由落體，無分散；

（5）照相頻率低（25幅/秒），測試數據少，結果的統計性仍然不好；

（6）沒有采用特殊的曝光設計，圖像的清晰度無；

（7）顆粒的圖像邊界模糊，結果可靠性太差。


   為了克服現有圖像分析儀存在的樣品量少、測試結果的代表性和統計性差，分析速度慢等缺點，德國新帕泰克公司研發并制造出了一臺能對快速移動顆粒直接進行粒度大小和粒形分析的粒度粒形分析儀－QICPIC（Quick Picture）。其測試原理為：從高頻脈沖光源發出的脈沖光，經過光束擴束器，得到平行的脈沖光，在測試區域內脈沖光照射在分散好的單個顆粒上，經過光學成像系統，得到每個顆粒清晰的圖像，收集到的的圖像數據及時傳輸給電腦，電腦給出全部樣品的粒形信息和粒度分布結果。